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熱沖擊低溫沖擊箱

簡要描述：

熱沖擊低溫沖擊箱，也叫熱沖擊試驗箱，或者低溫沖擊箱，是測試各類型的工業(yè)產品，非常實用的生產和檢測工具。多用于電子，LED,電池，化工，塑料，儀器儀表等行業(yè)。

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詳細介紹

熱沖擊低溫沖擊箱

熱沖擊試驗箱也叫低溫沖擊箱、冷熱沖擊箱，是測試各類型的工業(yè)產品，非常實用的生產和檢測工具。多用于電子，LED,電池，化工，塑料，儀器儀表等行業(yè)。

冷熱沖擊試驗箱可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產生非使用狀態(tài)的破壞試驗。（需把握在失敗機制依然未受影響的條件下）RAMP試驗條件標示為：Temperatre Cycling 或Temperatre Cycling Test也就是溫度循環(huán)（可控制斜率的溫度沖擊）。

◆ 可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能

◆ 等均溫速率可設定范圍5℃～30℃（40℃）

◆ 滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求

◆ 采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現(xiàn)低溫節(jié)能運行

◆ 除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時完成

◆ 通信配置RS232接口和SB儲存曲線下載功能

◆ 感測器放置測試區(qū)出（回）風口符合實驗有效性

◆ 機臺多處報警監(jiān)測，配置無線遠程報警功能

冷熱沖擊試驗箱應用標準

1.GB/T 10589-1989低溫試驗箱技術條件

2.GB/T 11158-1989 高溫試驗箱技術條件

3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗箱技術條件

4.GB/T 2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

5.GB/T 2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法

6.GB/T 2423.22-2002試驗N:溫度變化試驗方法

7.GJB150.3-1986高溫試驗

8.GJB150.4-1986低溫試驗

滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求

產品&規(guī)范	廠商名稱	高溫	低溫	溫變率	循環(huán)數(shù)	循環(huán)時間	備注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產品應力篩選	——	工作極限溫度	工作極限溫度	5℃/min	10～12	3h20min	——
MIL-344A-4-16 電子設備環(huán)境應力篩選	設備或系統(tǒng)	71℃	-54℃	5℃/min	10	——	——
MIL-2164A-19 電子設備環(huán)境應力篩選方法	——	工作極限溫度	工作極限溫度	10℃/min	10	——	駐留時間為內部達到溫度10℃時
NABMAT-9492 美軍*制造篩選	設備或系統(tǒng)	55℃	-53℃	15℃/min	10	——	駐留時間為內部達到溫度5℃時
GJB/Z34-5.1.6 電子產品定量環(huán)境應力篩選指南	組件	85℃	-55℃	15℃/min	≧25	——	達到溫度穩(wěn)定的時間
GJB/Z34-5.1.6 電子產品定量環(huán)境應力篩選指南	設備或系統(tǒng)	70℃	-55℃	5℃/min	≧10	——	達到溫度穩(wěn)定的時間
筆記本電腦	主板廠商	85℃	-40℃	15℃/min	——	——	——

Models	COK-50	COK-100	COK-150	COK-252
Inside Dimensions W x D x H cm	40X35X35	50X50X40	60X50X50	70X60X60
Otside Dimensions W x D x H cm	140X165X165	150X200X175	160X225X185	170X260X193
Precool/Preheat Range	-00.00℃～-75.00℃/+60.00℃～+200.00℃
Shocking Range	-10.00℃～-65.00℃/+60.00℃～+150.00℃
Time Range	0 hor 1 min ～ 9999 hor 59 min/segment
Resoltion	0.01℃/min
Temperatre niformity	&plsmn;3.00℃以內（nder℃3.00℃）
Range of temperatre variation（℃/min）	+5℃～+30℃/min（+40℃）
（Three boxes）range of box brshing	-65℃～+150℃ &plsmn;2.00℃以內（nder &plsmn;2.00℃）
（Two boxes）range of box brshing	-55℃～+150℃ &plsmn;2.00℃以內（nder &plsmn;2.00℃）

* 以上規(guī)格僅供參考，如有變更不另行通知。

冷熱沖擊試驗箱溫度可控制速率列表

TSR（斜率可控制） [5℃～30 ℃/min]
	30℃/min→	電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗
	28℃/min→	LED汽車照明燈
	25℃/min→	PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應
	24℃/min→	光纖連接頭
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器電子組件溫度循環(huán)測試（家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、汽車引擎蓋下環(huán)境）
	11℃/min→	無鉛CSP產品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗（WLCSP）、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試
	5℃/min→	錫須溫度循環(huán)試驗