產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
穩(wěn)態(tài)試驗(yàn)(Steady-state Test)是藉由高溫、高濕的加速因子下,驗(yàn)證評(píng)估非密封性包裝之電子零阻件中,封裝材質(zhì)與內(nèi)部線路對(duì)濕氣腐蝕抵抗的能力。而上板后與組件接合的位置(Solder Joint),會(huì)因溫度、濕度與外在偏壓(Bias),加速使金屬解離后,游離至另一極性(電子遷移,Migration),產(chǎn)生金屬沉積、形成Dendrite,導(dǎo)致短路進(jìn)而影響壽命。